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低功率逻辑器件老化系统

  • FLT-3101芯片动态老化测试系统
FLT-3101芯片动态老化测试系统

FLT-3101芯片动态老化测试系统

  • 车规级SOC芯片、GPU、CPU
  • 可靠性验证和量产
  • 复杂逻辑器件
  • 产品描述:车规级SOC芯片、GPU、CPU等复杂逻辑器件的可靠性验证和量产等
  • 在线订购

关键特性

· 支持测试腔体内恒温热风循环和腔体外水循环散热

· 支持单颗socket独立温度控制

· 支持电源加电时序配置和阶梯上电

· 支持可配置的过压、欠压、过流等保护策略

· 支持测试向量加载、输出及错误检测

· 支持测试向量数据回读、解析及报表生成

· 支持老化前根据电源和测试向量判断芯片的连接性

· 支持测试数据及日志信息定时本地及中央服务器存储及备份

· 支持产品运行状态和测试数据实时图形化展示

· 支持根据不同测试条件制定多步骤的测试计划,一键运行

· 支持操作员、工程师、工程调试、系统管理多级权限和功能控制

· 支持MES、SECS/GEM接入和功能定制

· 支持测试程序中央服务器管控及下载

· 支持根据异常场景分级执行继续、暂停、停止等策略

· 支持厂务断电、急停、异常关闭软件等场景数据恢复和测试恢复

· 支持异常信息汇总和查询


设备规格


序号

项目

参数

1

机台型号

FLT-3101

2

测试IC功率

单颗器件<50 W

3

控温方式

Socket独立温度控制

4

老化温度区间

RT+20℃ - 150C°

5

温区

2

6

温控通道数

24

7

温控电源规格

24V/60W

8

老化板槽位

32

9

老化板尺寸

570mm×609mm

10

单块老化板产品数

≤24(独立温控时)

11

设备产能

≤768 dut(独立温控时)

12

单块老化板电源通道

DPS1-8: 0.5-5V/60A150W

DPS9-10:0.5-10V/10A30W

13

电源设置分辨率

1mV

14

电压设置精度

0.5% F.S.± 0.05V

15

电压采样精度

0.5% F.S.± 0.05V

16

电流采样精度

DPS1-8:0.5% F.S.± 0.3A

DPS9-10:0.5% F.S.± 0.05A

17

电源远端采样

支持

18

电源远端调节

支持

19

电源保护

OCP,OVP,UVP(断电)

20

IO通道

256

21

IO功能

全双向,全部支持比对

22

IO频率

10MHZ

23

IO驱动电流

100mA

24

IO VIH

0.5-4.8V可调,4组可配置

25

IO VIL

0V

26

向量zone

每个老化板单独运行向量

27

向量格式

WGL,STIL,VEC,ATP,PAT等

28

向量内存

4GB

29

向量深度

>32M

30

支持码型

RO,RZ,NRZ

31

时钟timing set

4组

32

错误记录深度

4KB


厂务需求

序号

项目

参数

设备尺寸 L*W*H

mm

3410 * 1710 * 2300

设备占地
L*W

mm

4600 * 3000

设备重量

kg

1500kg

电压

V

380V 50hz

电流

A

168

额定功率

kw

110

厂务水温

<23℃(不冻结)

供水压力

MPA

0.5-0.6

厂务水流量

L/min

≥60L/min

进水管

1”内丝

出水管

1”内丝

运行温度

5-40℃

运行湿度

%

≤80%无冷凝

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电话:18688779380

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