光芯片可靠性测试系统

产品特点

系统共11层，每层4个老化抽屉，单抽屉支持单或双CARRIER。

CARRIER可兼容测试机，上下料机，贴片打线机(具体尺寸可定制)。

精密治具和探针板设计，压接成功率100%。

通过更换探针板和CARRIER可以适配不同COC产品老化需求。

高精度和稳定的电流和电压驱动源。

优秀的EOS和ESD保护，确保产品100%安全。

独立抽屉控温，温度稳定可靠，每一个老化单元都可以独立运行，使客户更高效便利的运行。

在线光功率监控，支持LIV扫描，结温测试，波长测试等。

老化过程中实时监控电流，电压，环境温度，COC温度和光功率等参数。

安全智能的软件系统，支持断电自动接续，暂停继续等,操作支持在线及离线浏览数据。

系统规格

整机产能

Carrier容里

系统温区

整机重重

整机尺寸

4224(单抽屉双 Carrier模式)

48

抽屉独立控温

1000Kg

1000mm (w)*1200mm (D)*2 1 50mm (H)

驱动规格

恒流设置范围

电流设置精度

电流设置分辨率

电流输出稳定性

恒压设置范围

电压设置精度

电压设置分辨率

电压输出稳定性

0~500mA

0.5%ofF.S.± 50uA

50uA

1% @200h

-7.5~7.5V

0.5% of F.S±10mv

1mV

1% @200h

温度规格

控温方式

控温范围

温度精度

温度稳定性

升/降温速度

C0C热敏电阻监控

片式加热片

45~150℃

+0.5℃

±1℃

5'℃/min

支持热敏电阻在线监控，监控

温度与实测温度<0.5℃

LIV扫描&光功率在线监控

监控方式

光功率稳定性

Po 稳定性

Ith稳定性

电流分辨率

相对光功率监控

≤1% @200h

≤1%

≤1%

0.5mA