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激光器老化系统

  • 高温高湿老化系统
高温高湿老化系统

高温高湿老化系统

  • 产品描述:光芯片高温高湿可靠性测试系统,适用于940nm VCSEL,激光电视
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产品简介

成熟系统:批量交付稳定运行,出色的ESD EOS 保护,确保产品100%安全

最出色的交期:全自动生产调试,交期2个月以内

驱动板卡:无过冲,高可靠性,高精度

温控系统:制冷系统,温度范围-401505个湿度控制,超过国标,可定制

软件:远超过20000小时运行的成熟软件,预警,数据实时展示,MES支持,数据上传


规格参数:

产能

320pcs

内箱尺寸

W600 mm × H500 mm × D500 mm

整体尺寸

W2251mm×H2125mm×D1507mm

内箱数量

2独立内箱

重量

800KG

性能

测试环境条件

环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下

测试方法

GB/T5170.2-2008温度试验设备

GB/T5170.5-2008湿热试验设备

烤箱温度范围

50℃~+140

烤箱温度波动度

≤±1℃(注:如按GB/T5170.2-1996表示,波动度为≤±0.25℃)

烤箱温度偏差

±1.5

烤箱温度均匀度

2.0(其他条件且无附加玻璃门时)

烤箱升温时间

20℃→+60:25min以内

20℃→+100:35min以内

20℃→+140:45min以内

烤箱降温时间

+20℃→-25:20min以内

+20℃→-40:40min以内

烤箱湿度范围

2098%RH(参照温湿度可控制范围图,无有源湿、热负载)

烤箱相对湿度偏差

±3.0%RH(湿度>75%RH时)

±5.0%RH(湿度≤75%RH时)

驱动电流范围

CW 0-10A;可根据客户需求定制

PW 0-10A; 频率可定制,占空比可定制

电流精度

1%

输出电压范围

0-10V

电压读取精度

1%

电流电压过冲

使用过程无过冲

其他配置

支持液冷接入

针对大功率产品支持液冷接入散热