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激光器老化系统

  • 烤箱式老化系统
烤箱式老化系统

烤箱式老化系统

  • 产品描述:烤箱式芯片可靠性测试系统,适用于COB,TO封装产品
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产品简介

成熟系统交付稳定运行,出色的ESD EOS 保护,确保产品100%安全

最出色的交期:全自动生产调试,交期2个月以内

驱动板卡:无过冲,高可靠性,高精度

温控系统:烤箱加热,温度范围-40180

软件:远超过20000小时运行的成熟软件,预警,数据实时展示,MES支持,数据上传

选装:在线光功率监控、在线LIV,EA扫描功能,提供大功率VCSEL老化可靠性测试,独特的水冷技术,每层单元单独控温,更稳定的高温性能表现,100%安全。


规格参数:

温区数量

2温区

外型尺寸

W2244 mm × H2030 mm × D1693 mm

重量

1000kg

性能

整机产能

依据产品不同,普通TO56 4000pcs

控温方法

温箱控温

温度范围

40℃~180

温度波动度

2

温度精度

0.1℃

温度均匀度

±2.0

升温时间

25℃ →+100:30min 以内

驱动电流范围

CW 0-10A;可根据客户需求定制

PW 0-10A;

电流精度

1%

输出电压范围

0-10V

电压读取精度

1%±0.01V

电流电压过冲

使用过程无过冲